2017聯(lián)動科技類比IC測試技術研討會在西安積體電路中心圓滿舉辦
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writer：聯(lián)動科技 pubdate：2017-06-16 00:00:00 visits：1344
6月15日， 聯(lián)動科技實業(yè)有限公司聯(lián)合西安市積體電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展中心，共同舉辦了“模擬IC測試技術研討會”，來自本地高校、研究所和企業(yè)等19個單位代表專家參加了本次會議 。
會議首先由西安市積體電路產(chǎn)業(yè)中心領導代表就產(chǎn)業(yè)的情況作了簡要的介紹，之後聯(lián)動銷售總監(jiān)Edward就公司和產(chǎn)品向大家做了詳盡的說明，並由技術人員就觸發(fā)測量方法、並行多點 採樣時間測量、模擬裝置測量的向量編輯和尖峰自動偵測等技術領域和大家一起進行了分享和交流。
茶歇時間，代表們與連動科技相關人員進行了深入的交流與探討，雙方互換訊息為未來的合作奠定了基礎。
本次研討會也是根據(jù)企業(yè)在測試技術方面的訴求，結(jié)合陝西半導體產(chǎn)業(yè)發(fā)展的需求而舉辦，此次會議大家感知良好，達到了預期的效果。
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