第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
KGD(Known Good Die)測(cè)試解決方案
支持高溫常溫測(cè)試：DC+SW+UIL+DC&RG； 支持測(cè)試針卡保護(hù)方案； 提供測(cè)試+分選整套方案；
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針卡保護(hù) |
兩顆并測(cè) |
高溫常溫 |
數(shù)據(jù)合并 |
| 型號(hào) | KGD測(cè)試解決方案 |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) |
? 低雜散解決方案； ? 獨(dú)家針卡保護(hù)專利技術(shù)； ? 過(guò)載欠壓保護(hù)； ? 一次測(cè)試兩顆晶片； ? 支援高溫加熱 |
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