第三代
            半導體測試家族
            Third generation semiconductor testing family
             
        
        
    
             
             
     
    
            
    
      
     
    
    
             
            
            
            
                  
                 
            
           
                
                   

            
    
            
             
                       
                        
            
                            
            
                                
            
                                    
            
                                    
                                                        
                                                    
                        
                                 
                
                
                
                
                                        
                                                   
                                    
            
                                    
            
                                    
            
                                    
            
                                
            
                            
            
                            
            
                                                        
                            
                            
                            
             
                        
            
             
            
             
            
                    
            
                             
            Prober
            
                             
            適用于6、8″Si、SiC分立器件、功率器件、集成電路、射頻器件、光芯片等晶圓的自動探針測試。
自動上下片，Wafer ID讀取。
全自動CCD視覺對針定位。
高精度定位平臺。
支持常高溫測試。
實時生成Mapping顯示Bin。
通用GPIB、TTL、R-232接口。
            
                             
             


            

            

            
	
		
            
			
				
            
					 
				
            
				
            
					懸浮電源
				
            
			            		
			
				
            
					 
				
            
				
            
					多Site并行
				
            
			            		
			
				
            
					 
				
            
				
            
					多通道高精度
				
            
			            		
			
				
            
					 
				
            
				
            
					支持多種擴展
				
            
			            		
		
            
	            

            
                             
            
                             
            
                                                          
            
                    
            
             
            
    
              
    
            
    

            
	
		
            
			
				型號 
			
			
				Prober
			
		
            
		
            
			
				產(chǎn)品介紹 
			
			
				適用于6、8″Si、SiC分立器件、功率器件、集成電路、射頻器件、光芯片等晶圓的自動探針測試。
自動上下片，Wafer ID讀取。 
            
			            		
		
            
		
            
			
				功能 
			
			
				? 全自動CCD視覺對針定位。
            
       ? 高精度定位平臺。
            
       ? 支持常高溫測試。
            
       ? 實時生成Mapping顯示Bin。
            
       ? 通用GPIB、TTL、R-232接口。
            
			            		
		
            
	            

            

            
                         
            

   
    
               
  
                
                
    
            
    
    
    
    
    
    
     
     
      

            

              
                 
            
            
            
            
    
            
    
    
    

              

  

  

            
            
            
            
            
            
            

            
   

            



    

  
 












            
    
    

            


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