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第三代

半導體測試家族

Third generation semiconductor testing family

首頁產(chǎn)品中心分立器件高速測試系統(tǒng)

分類

IC測試系統(tǒng)

QT-8100 數(shù)模混合 IC 測試系統(tǒng) (Cable-Mount)

QT-8200 PLUS 數(shù)?；旌?IC 測試系統(tǒng) (Hard-Docking)

QT-8100HP 模擬 IC 測試系統(tǒng) (Cable-Mount)

QT-8600RF 混合信號射頻測試系統(tǒng)
功率模塊及器件測試系統(tǒng)

QT-8400D 功率器件多Site測試系統(tǒng)

QT-8400GaN 氮化鎵測試系統(tǒng)

QT-8400PIM 大功率動靜態(tài)綜合測試系統(tǒng)

QT-8400IPM 智能功率模塊測試系統(tǒng)
分立器件高速測試系統(tǒng)

QT-6000 分立器件高速測試系統(tǒng)
功率器件測試系統(tǒng)

QT-4100 功率器件測試系統(tǒng)

KGD(Known Good Die)測試解決方案

QT-DRM101000 氮化鎵動態(tài) RDON

QT-3108 SW IGBT/SIC 動態(tài)測試

QT-3104 QG 柵極電荷測試

QT-3101 UIL 雪崩測試

QT-3102 熱阻測試儀

QT-3107 LCR RG/CG 測試

QT-3105TRR 二極管反向恢復測試

QT-6000 分立器件高速測試系統(tǒng)

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