第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類(lèi)
QT-3104 QG 柵極電荷測(cè)試
QT-3104 QG滿足SiC器件微小QG值測(cè)試
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支持雙DIE |
過(guò)載欠壓保護(hù) |
高精度測(cè)試 |
支持?jǐn)U展 |
| 型號(hào) | QT-3104 QG |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) | 滿足SiC器件微小QG值測(cè)試 |
| 主要特點(diǎn) | ? 測(cè)試能力:200A/150V 150A/1000V |
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