第三代
半導(dǎo)體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-8100 數(shù)?;旌螴C測試系統(tǒng) (Cable-Mount)
適用於常規(guī)DC、AC參數(shù)測試及混合類及模擬類IC元件功能性測試。 主要測試:電源管理類,數(shù)位消費(fèi)類,馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類,音頻放大器、運(yùn)算等。
懸浮電源 |
多Site並行 |
多通道高精度 |
支援多種擴(kuò)展 |
型號(hào) | QT-8100 |
產(chǎn)品優(yōu)勢 |
數(shù)?;旌螴C測試系統(tǒng)適用於常規(guī)DC、AC參數(shù)測試及混合類及模擬類IC元件功能性測試。 主要測試:電源管理類,數(shù)位消費(fèi)類,馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類,音頻放大器、運(yùn)算等 |
主要特點(diǎn) |
? 懸浮V/I源,四象限 ? 由測試盒引出全資源,8site並測 ? 數(shù)位速率100Mhz,向量深度8M ? 真並測,多路1000V/20A高壓大電流 ? 18 bit 高精密採樣 ? 20 個(gè)類比插槽(Max 216通道)/ 8 個(gè)數(shù)位插槽( Max 128通道) ? 多通道高精度時(shí)間測量單元,支援ns等級(jí)時(shí)間測量 ? 支援RF模組擴(kuò)充 ? PCIE 卡,測試效率更高 |
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