第三代
            半導(dǎo)體測試家族
            Third generation semiconductor testing family
            首頁 產(chǎn)品中心 電晶體測試 IC測試系統(tǒng)
            分類
             
            QT-8100 數(shù)?;旌螴C測試系統(tǒng) (Cable-Mount)

            適用於常規(guī)DC、AC參數(shù)測試及混合類及模擬類IC元件功能性測試。 主要測試:電源管理類,數(shù)位消費(fèi)類,馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類,音頻放大器、運(yùn)算等。



            懸浮電源

            多Site並行

            多通道高精度

            支援多種擴(kuò)展

            型號(hào) QT-8100
            產(chǎn)品優(yōu)勢

            數(shù)?;旌螴C測試系統(tǒng)適用於常規(guī)DC、AC參數(shù)測試及混合類及模擬類IC元件功能性測試。 主要測試:電源管理類,數(shù)位消費(fèi)類,馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類,音頻放大器、運(yùn)算等

            主要特點(diǎn) ? 懸浮V/I源,四象限
            ? 由測試盒引出全資源,8site並測
            ? 數(shù)位速率100Mhz,向量深度8M
            ? 真並測,多路1000V/20A高壓大電流
            ? 18 bit 高精密採樣
            ? 20 個(gè)類比插槽(Max 216通道)/ 8 個(gè)數(shù)位插槽( Max 128通道)
            ? 多通道高精度時(shí)間測量單元,支援ns等級(jí)時(shí)間測量
            ? 支援RF模組擴(kuò)充
            ? PCIE 卡,測試效率更高




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