第三代
            半導(dǎo)體測(cè)試家族
            Third generation semiconductor testing family
            分類
             
            QT-8600RF 混合訊號(hào)射頻測(cè)試系統(tǒng)

            RF6G 測(cè)試模組,應(yīng)用於高功率輸出、諧波測(cè)試、開(kāi)關(guān)時(shí)間、插損、隔離、S11、Ron、Coff、同端迴路、IP3、雜散測(cè)試



            懸浮電源

            多Site並行

            多通道高精度

            支援多種擴(kuò)展

            型號(hào) QT-8600RF 混合訊號(hào)射頻測(cè)試系統(tǒng)
            產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) RF6G 測(cè)試模組,應(yīng)用於高功率輸出、諧波測(cè)試、開(kāi)關(guān)時(shí)間、插損、隔離、S11、Ron、Coff、同端迴路、IP3、雜散測(cè)試
            主要特點(diǎn) ? DC、數(shù)位、RF一體成型機(jī)臺(tái)
            ? 16 個(gè)RF埠(8 in & 8 out)
            ? 6Ghz 射頻測(cè)量迴路,功率可配48dBm
            ? 自研射頻源闆卡與演算法,UPH較傳統(tǒng)提高90%以上
            ? 支援向量和標(biāo)量測(cè)試
            ? 數(shù)位滿足MIPI 50Mhz以上測(cè)試
            ? 支援2站RF並行測(cè)試,多站複合測(cè)試
            ? 為 RF開(kāi)關(guān)、LNA、TUNER、濾波器等裝置提供追求卓越性價(jià)比的測(cè)試平臺(tái)。




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