QT-8400功率器件多Site測(cè)試系統(tǒng)
            探索第三代電晶體的無(wú)限可能

            測(cè)試主機(jī)

            GaN

            Power Device

            QT-8400由測(cè)試主機(jī)與測(cè)試站Test Kit組成,
            其中Test Kit分為兩種: Power Device Test Kit & GaN Test Kit。

            Test Kit
            可根據(jù)需求進(jìn)行選擇
            • Power Device Test Kit

              面向MOSFET/SIC、二極體、三極管等CP測(cè)試需求的 Power Device Test Kit.

            • GaN Test Kit

              面向氮化鎵測(cè)試需求的 GaN Test Kit.

            105cm
            站姿鍵盤(pán)高度
            75cm
            坐姿鍵盤(pán)高度
            創(chuàng)新標(biāo)識(shí)設(shè)計(jì)
            站坐快速切換
            觸動(dòng)人心的
            用戶(hù)體驗(yàn)
            8400主機(jī)殼從人體工學(xué)設(shè)計(jì)出發(fā)針對(duì)設(shè)計(jì)公司、實(shí)驗(yàn)室和封測(cè)廠等不同環(huán)境場(chǎng)所,滿(mǎn)足了用戶(hù)站姿與坐姿不同狀態(tài)下的鍵盤(pán)操作使用需求,我們?cè)O(shè)計(jì)了獨(dú)有的指引標(biāo)識(shí)線(xiàn),能讓用戶(hù)快速的找到站立或坐姿時(shí)推薦的鍵盤(pán)高度,也可根據(jù)個(gè)人身高差異自行微調(diào),極大提升了操作舒適性和效率。

            * 已申請(qǐng)專(zhuān)利

            創(chuàng)新標(biāo)識(shí)設(shè)計(jì)
            站坐快速切換
            觸動(dòng)人心的
            使用者體驗(yàn)
            8400主機(jī)殼從人體工學(xué)設(shè)計(jì)出發(fā)針對(duì)設(shè)計(jì)公司、實(shí)驗(yàn)室和封測(cè)廠等不同環(huán)境場(chǎng)所,滿(mǎn)足了用戶(hù)站姿與坐姿不同狀態(tài)下的鍵盤(pán)操作使用需求,我們?cè)O(shè)計(jì)了獨(dú)有的指引標(biāo)識(shí)線(xiàn),能讓用戶(hù)快速的找到站立或坐姿時(shí)推薦的鍵盤(pán)高度,也可根據(jù)個(gè)人身高差異自行微調(diào),極大提升了操作舒適性和效率。

            * 已申請(qǐng)專(zhuān)利

            105cm
            站姿鍵盤(pán)高度
            75cm
            坐姿鍵盤(pán)高度
            並行測(cè)試,效率倍增
            支持2/4/8/16 Site並行測(cè)試,滿(mǎn)足客戶(hù)對(duì)更高測(cè)試效率的需求。
            測(cè)試需求,全方位覆蓋
            QT-8400 整機(jī)提供 20A/100A、1KV/2KV 的技術(shù)指標(biāo),能夠滿(mǎn)足大多數(shù)第三代半導(dǎo)體的測(cè)試需求。 如果客戶(hù)有更高規(guī)格的需求,我們也支援?dāng)U充高壓/直流模組,最高可達(dá) 8KV, 2000A。 對(duì)於有動(dòng)態(tài)測(cè)試需求的用戶(hù),我們還提供雪崩、RGCG,動(dòng)態(tài) RDson 等模組的擴(kuò)展,並規(guī)劃未來(lái)相容更多的動(dòng)態(tài)測(cè)試模組。

            QT-8400 GaN

            QT-8400 D

            測(cè)試範(fàn)圍

            專(zhuān)用於氮化鎵動(dòng)靜態(tài)電參數(shù)測(cè)試

            測(cè)試範(fàn)圍

            專(zhuān)用於 MOSFET/SIC 、二極體、三極管、IGBT等 CP測(cè)試。

            參數(shù)指標(biāo)

            懸浮 V/I 源
            電壓 1KV/2KV
            20-100A;

            參數(shù)指標(biāo)

            懸浮 V/I 源
            電壓1KV/2KV/3KV
            20-100A/200A

            平行測(cè)試數(shù)

            2/4/8/16 Site

            平行測(cè)試數(shù)

            2/4/8/16 Site

            可擴(kuò)充動(dòng)態(tài)模組

            LCR測(cè)試模組(CG)
            動(dòng)態(tài) RDSON 模組(支援硬切和軟切)

            可擴(kuò)充動(dòng)態(tài)模組

            雪崩測(cè)試模組(UIS、EAS)
            LCR測(cè)試模組(RG、CG)

            可擴(kuò)充高壓/直流模組

            最高可擴(kuò)展8KV, 2KA

            可擴(kuò)充高壓/直流模組

            最高可擴(kuò)展8KV, 2KA

            精準(zhǔn)測(cè)量

            Power Device Test Kit內(nèi)建精密測(cè)量電路,實(shí)現(xiàn)nA級(jí)和mΩ級(jí)的精準(zhǔn)測(cè)量。

            精準(zhǔn)測(cè)量

            GaN Test Kit內(nèi)建精密測(cè)量電路,實(shí)現(xiàn)nA級(jí)和mΩ級(jí)的精準(zhǔn)測(cè)量。

            闆卡資源靈活搭配
            我們的設(shè)備採(cǎi)用可插拔式闆卡架構(gòu),讓您可以根據(jù)需求靈活搭配闆卡,從而實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)把控測(cè)試成本。
            功能全面,滿(mǎn)足各類(lèi)需求
            測(cè)試主機(jī)闆卡均為四象限V/I源,配備AWG及示波器,功能全面,滿(mǎn)足如 I-V 曲線(xiàn)等各類(lèi)掃描測(cè)試需求。

            內(nèi)建示波器圖

            AWG編輯器
            PTS OS 直覺(jué)易用,
            專(zhuān)為測(cè)試&生產(chǎn)而設(shè)計(jì)
            我們對(duì) QT-8400 PTS OS 軟體介面全面優(yōu)化,以提升實(shí)用性、美觀性和易用性。 大幅提高測(cè)試開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)以及調(diào)試校準(zhǔn)效率,使用戶(hù)輕鬆上手高效操作。

            * 已申請(qǐng)專(zhuān)利

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