第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-3104 QG 閘極電荷測(cè)試
QT-3104 QG滿足SiC裝置微小QG值測(cè)試
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支援雙DIE |
過載欠壓保護(hù) |
高精度測(cè)試 |
支援?dāng)U充 |
| 型號(hào) | QT-3104 QG |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) | 滿足SiC裝置微小QG值測(cè)試 |
| 主要特點(diǎn) | ? 測(cè)試能力:200A/150V 150A/1000V |
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