第三代
            半導(dǎo)體測(cè)試家族
            Third generation semiconductor testing family
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            分類(lèi)
             
            QT-3107 LCR RG/CG 測(cè)試

            自研LCR數(shù)位電橋,支援Mosfet RG/CG測(cè)試,也可以用於測(cè)試二極體的電容測(cè)試,解析度1fF



            支援雙DIE

            精度高抗干擾

            測(cè)試速度快

            擴(kuò)展2KV偏置

            型號(hào) QT-3107
            產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) 采用數(shù)字電橋,抗干擾能力強(qiáng),測(cè)試精度高;
            測(cè)試時(shí)間比模擬電橋快2-3倍;
            偏置電壓最高2KV;
            主要特點(diǎn) 測(cè)試分辨率1fF;
            自帶±100V偏置源;
            測(cè)試頻率:1MHz,擴(kuò)展2MHz;
            輸出幅度:0.025-2V;




            Testing standards檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
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