第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類(lèi)
QT-3107 LCR RG/CG 測(cè)試
自研LCR數(shù)位電橋,支援Mosfet RG/CG測(cè)試,也可以用於測(cè)試二極體的電容測(cè)試,解析度1fF
支援雙DIE |
精度高抗干擾 |
測(cè)試速度快 |
擴(kuò)展2KV偏置 |
型號(hào) | QT-3107 |
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) |
采用數(shù)字電橋,抗干擾能力強(qiáng),測(cè)試精度高; 測(cè)試時(shí)間比模擬電橋快2-3倍; 偏置電壓最高2KV; |
主要特點(diǎn) |
測(cè)試分辨率1fF; 自帶±100V偏置源; 測(cè)試頻率:1MHz,擴(kuò)展2MHz; 輸出幅度:0.025-2V; |
Testing standards檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
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