第三代
            半導(dǎo)體測(cè)試家族
            Third generation semiconductor testing family
            首頁(yè) 產(chǎn)品中心 視像檢測(cè) QuickView視像檢測(cè)系統(tǒng)
            分類
             
            方向偵測(cè)工位

            基於半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)需求設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā),採(cǎi)用運(yùn)轉(zhuǎn)穩(wěn)定的工業(yè)相機(jī)及工控電腦,數(shù)位傳輸準(zhǔn)確無(wú)誤,反映迅速、抓圖清晰、完整可靠



            懸浮電源

            多Site並行

            多通道高精度

            支援多種擴(kuò)展

            型號(hào) 方向偵測(cè)工位
            產(chǎn)品介紹 基於半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)需求設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā),採(cǎi)用運(yùn)轉(zhuǎn)穩(wěn)定的工業(yè)相機(jī)及工控電腦,數(shù)位傳輸準(zhǔn)確無(wú)誤,反映迅速、抓圖清晰、完整可靠
            全面滿足最高速Handler的生產(chǎn)速度,檢測(cè)工位齊全,滿足客戶各種檢測(cè)需求。 QV系列偵測(cè)系統(tǒng),可設(shè)定的偵測(cè)工位有:3D偵測(cè)工位、印字工位、編帶工位、方向工位等
            本系統(tǒng)可搭配各款Handler,檢測(cè)範(fàn)圍涵蓋半導(dǎo)體各類元件,如:SOT23、SOD123、SOD323、 SOD523、 SOD923、SMA、SMB、SMC、SOD882(1006)、TO92、TO252、SOD129、MBS、SOP8L等軟體 系統(tǒng)提供中英文介面、多層次權(quán)限控制,自動(dòng)化程度高
            軟體系統(tǒng)100%聯(lián)動(dòng)研發(fā),依照機(jī)器視像偵測(cè)流程,最佳化組合、易於操作應(yīng)用
            所有工業(yè)相機(jī)的各項(xiàng)參數(shù),如快門時(shí)間、增益、對(duì)比、光源亮度等均可透過(guò)軟體調(diào)節(jié)
            QV系列機(jī)器視覺(jué)辨識(shí)系統(tǒng),為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的各式封裝裝置,對(duì)產(chǎn)品管腳及塑封體進(jìn)行字模、2D腳位、3D腳部及塑封體表面瑕疵等全方位、高精度視像檢測(cè)
            應(yīng)用方便、操作簡(jiǎn)易、系統(tǒng)運(yùn)作穩(wěn)定,提升客戶的生產(chǎn)能力
            及時(shí)檢測(cè)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)各類元件精確度,提高生產(chǎn)效率
            執(zhí)行校準(zhǔn)快捷,確保零次品率,提升生產(chǎn)品質(zhì)
            功能 ? 偵測(cè)裝置表面印章內(nèi)容(錯(cuò)字、多字、漏字、污損、偏移、重印模糊、刮痕、塑封體崩裂等)
            ? 偵測(cè)裝置引腳資訊(方向、腳長(zhǎng)、腳寬、腳間距、腳偏移等)
            基本配置 CCD相機(jī)、工業(yè)鏡頭、LED光源、機(jī)械結(jié)構(gòu)件
            SI偵測(cè) 最小面積0.7mm*0.7mm,整體平均灰階的差值在40以上
            GR&R <10%


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