第三代
            半導(dǎo)體測試家族
            Third generation semiconductor testing family
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            分類
             
            KGD(Known Good Die)測試解決方案

            支援高溫常溫測試:DC+SW+UIL+DC&RG; 支援測試針卡保護(hù)方案; 提供測試+分選整套方案;



            針卡保護(hù)

            兩顆並測

            高溫常溫

            數(shù)據(jù)合併

            型號 KGD測試解決方案
            產(chǎn)品優(yōu)勢 ? 低雜散解決方案;
            ? 獨(dú)家針卡保護(hù)專利技術(shù);
            ? 過載欠壓保護(hù);
            ? 一次測試兩顆晶片;
            ? 支援高溫加熱




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