第三代
            半導(dǎo)體測(cè)試家族
            Third generation semiconductor testing family
             
            重力式雙軌道分選機(jī)

            適用TO-247、TO-220、TO-263、Tpak等封裝。 常高溫雙軌並測(cè),比單軌效率提升80%。 動(dòng)態(tài)測(cè)試Docking結(jié)構(gòu)雜訊低於30uH。 提供30°C~200°C可調(diào)高溫測(cè)試環(huán)境。



            懸浮電源

            多Site並行

            多通道高精度

            支援多種擴(kuò)展

            型號(hào) 重力式雙軌道分選機(jī)
            產(chǎn)品介紹 適用TO-247、TO-220、TO-263、Tpak等封裝。
            功能 ? 常高溫雙軌並測(cè),比單軌效率提高80%。
            ? 動(dòng)態(tài)測(cè)試Docking結(jié)構(gòu)雜訊低於30uH。
            ? 提供30°C~200°C可調(diào)高溫測(cè)試環(huán)境。


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