第三代
            半導體測試家族
            Third generation semiconductor testing family
             
        
        
    
             
             
     
    
            
    
             
            
        
              
        
           
             
        
                         
               
        
                
                
                
        
            
    
            
      
     
    
    
             
            
            
            
                  
            
                       
                       
              
                          
                                             
                       
     
                          
                          
                       
            
           
                 
            
                 
            
           
                
                   

            
    
            
             
                       
                        
            
                            
            
                                
            
                                    
            
                                    
                                                        
                                                    
                        
                                 
                
                
                
                
                                        
                                                   
                                    
            
                                    
            
                                    
            
                                    
            
                                
            
                            
            
                            
            
                                                        
                            
                            
                            
             
                        
            
             
            
             
            
                    
            
                             
            Prober
            
                             
            適用於6、8″Si、SiC分立元件、功率元件、積體電路、射頻元件、光晶片等晶圓的自動探針測試。
自動上下片，Wafer ID讀取。
全自動CCD視覺對針定位。
高精度定位平臺。
支援常高溫測試。
即時產(chǎn)生Mapping顯示Bin。
通用GPIB、TTL、R-232介面。
            
                             
             


            

            

            
	
		
            
			
				
            
					 
				
            
				
            
					懸浮電源
				
            
			            		
			
				
            
					 
				
            
				
            
					多Site並行
				
            
			            		
			
				
            
					 
				
            
				
            
					多通道高精度
				
            
			            		
			
				
            
					 
				
            
				
            
					支援多種擴展
				
            
			            		
		
            
	            

            
                             
            
                             
            
                                                          
            
                    
            
             
            
    
              
    
            
    

            
	
		
            
			
				型號 
			
			
				Prober
			
		
            
		
            
			
				產(chǎn)品介紹 
			
			
				適用於6、8″Si、SiC分立元件、功率元件、積體電路、射頻元件、光晶片等晶圓的自動探針測試。
自動上下片，Wafer ID讀取。 
            
			            		
		
            
		
            
			
				功能 
			
			
				? 全自動CCD視覺對針定位。 
            
        ? 高精度定位平臺。 
            
        ? 支援常高溫測試。 
            
        ? 即時產(chǎn)生Mapping顯示Bin。 
            
        ? 通用GPIB、TTL、R-232介面。 
            
			            		
		
            
	            

            

            
                          
            

   
    
               
  
                
                
    
            
    
    
    
    
    
    
            
        
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