第三代
            半導體測試家族
            Third generation semiconductor testing family
             
        
        
    
             
             
     
    
            
    
             
            
        
              
        
           
             
        
                         
               
        
                
                
                
        
            
    
            
      
     
    
    
             
            
            
            
                  
            
                       
                       
              
                          
                                             
                       
     
                          
                          
                       
            
           
                 
            
                 
            
           
                
                   

            
    
            
             
                       
                        
            
                            
            
                                
            
                                    
            
                                    
                                                        
                                                    
                        
                                 
                
                
                
                
                                        
                                                   
                                    
            
                                    
            
                                    
            
                                    
            
                                
            
                            
            
                            
            
                                                        
                            
                            
                            
             
                        
            
             
            
             
            
                    
            
                             
            KGD handler
            
                             
            全自動測試，支援SiC晶圓、Waffle Pack、Tape&Reel上料與下料。
多工位並行測試，不同工位支援不同溫度與測試項目。
靜態(tài)、動態(tài)、雪崩功能測試，且測試順序可調。
高溫預熱與晶片表面防氧化保護。
高溫測試，溫度範圍：室溫~200°C。
加電針卡為密封設計，支援充氮氣保護防高壓打火與氮氣壓力監(jiān)測。
            
                             
             


            

            

            
	
		
            
			
				
            
					 
				
            
				
            
					懸浮電源
				
            
			            		
			
				
            
					 
				
            
				
            
					多Site並行
				
            
			            		
			
				
            
					 
				
            
				
            
					多通道高精度
				
            
			            		
			
				
            
					 
				
            
				
            
					支援多種擴展
				
            
			            		
		
            
	            

            
                             
            
                             
            
                                                          
            
                    
            
             
            
    
              
    
            
    

            
	
		
            
			
				型號 
			
			
				KGD handler
			
		
            
		
            
			
				產(chǎn)品介紹 
			
			
				全自動測試，支援SiC晶圓、Waffle Pack、Tape&Reel上料與下料。 
            
			            		
		
            
		
            
			
				功能 
			
			
				? 多工位並行測試，不同工位支援不同溫度與測試項目。 
            
          ? 靜態(tài)、動態(tài)、雪崩功能測試，且測試順序可調。 
            
          ? 高溫預熱與晶片表面防氧化保護。 
            
          ? 高溫測試，溫度範圍：室溫~200°C。 
            
          ? 加電針卡為密封設計，支援充氮氣保護防高壓打火與氮氣壓力監(jiān)測。 
            
			            		
		
            
	            

            

            
                            
            

   
    
               
  
                
                
    
            
    
    
    
    
    
    
            
        
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