第三代
            半導(dǎo)體測試家族
            Third generation semiconductor testing family
             
        
        
    
             
             
     
    
            
    
             
            
        
    
            
      
     
    
    
             
            
            
            
                  
            
                       
                       
           
                 
            
                 
            
           
                
                   

            
    
            
             
                       
                        
            
                            
            
                                
            
                                    
            
                                    
                                         
                                        
                                                   
                                    
            
                                    
            
                                    
            
                                    
            
                                
            
                            
            
                            
            
                                                        
                            
                            
                            
             
                        
            
             
            
             
            
                    
            
                             
            歡迎蒞臨SEMICON China 2015 聯(lián)動(dòng)展位
            
                             
            
                             
             


            

                             
            
                             
            
                                                          
            
                    
            
             
            
    
              
    
            
    


   

            
	2015年3月17-19日，聯(lián)動(dòng)科技在為期三天的面向全球半導(dǎo)體同行的旗艦展會(huì)SEMICON上，向新老客戶展示了公司目前在半導(dǎo)體測試系統(tǒng)，半導(dǎo)體激光打標(biāo)設(shè)備，視像檢測系統(tǒng)類的最新產(chǎn)品，包括QT-8100模擬數(shù)字混合信號IC測試系統(tǒng)，QT-6106C測試模組，雪崩測試模組，RG/QG測試模組，獨(dú)立熱阻測試模組以及FIBER 脈沖分體式雙頭打標(biāo)設(shè)備和光纖分體式視像定位打標(biāo)設(shè)備。

                
               
  
                
                
    
            
    
    
    
    
    
    
     
     
      

            

              
                 
            
            
            
            
    
            
    
    
    

              

  

  

            
            
            
            
            
            
            

            
   

            



    

  
 












            
    
    

            


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