第三代
            半導(dǎo)體測(cè)試家族
            Third generation semiconductor testing family
             
        
        
    
             
             
     
    
            
    
             
            
        
    
            
      
     
    
    
             
            
            
            
                  
            
                       
                       
           
                 
            
                 
            
           
                
                   

            
    
            
             
                       
                        
            
                            
            
                                
            
                                    
            
                                    
                                         
                                        
                                                   
                                    
            
                                    
            
                                    
            
                                    
            
                                
            
                            
            
                            
            
                                                        
                            
                            
                            
             
                        
            
             
            
             
            
                    
            
                             
            聯(lián)動(dòng)科技成功參展SEMICON CHINA 2017
            
                             
            
                             
             


            

                             
            
                             
            
                                                          
            
                    
            
             
            
    
              
    
            
    


   

            
	2017年3月14-16日，由SEMI(國(guó)際半導(dǎo)體設(shè)備材料產(chǎn)業(yè)協(xié)會(huì))和中國(guó)電子商會(huì)(CECC)共同舉辦的全球規(guī)模最大、規(guī)格最高的半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)年度盛會(huì)SEMICON China 2017 國(guó)際半導(dǎo)體展在上海新國(guó)際博覽中心拉開(kāi)帷幕。聯(lián)動(dòng)科技向新老客戶展示了公司半導(dǎo)體IC集成電路和Discete測(cè)試系統(tǒng)(QT-8200/8100模擬數(shù)字混合信號(hào)IC測(cè)試系統(tǒng)、QT-6166C1S高速測(cè)試系統(tǒng)（內(nèi)置LCR模組）、綜合測(cè)試平臺(tái)等先進(jìn)設(shè)備)。

            

            
	
            

            

            
	
            

            

            
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