第三代
            半導體測試家族
            Third generation semiconductor testing family
             
        
        
            分類
            
    
             
             
     
    
            
    
      
     
    
    
             
            
            
            
                  
                 
            
           
                
                   

            
    
            
             
                       
                        
            
                            
            
                                
            
                                    
            
                                    
                                         
                                        
                                                   
                                    
            
                                    
            
                                    
            
                                    
            
                                
            
                            
            
                            
            
                                                        
                            
                            
                            
             
                        
            
             
            
             
            
                    
            
                             
            聯動科技成功參展SEMICON CHINA 2019
            
                             
            
                             
             


            

                             
            
                             
            
                                                          
            
                    
            
             
            
    
              
    
            
    


   

            
	2019年3月20日至22日，Semicon China 2019在上海新國際展覽中心順利舉行。

            

            
	我公司展示了目前在半導體IC測試系統、分立器件測試系統和激光打標系統的最新產品。包括：完全國內自主研發(fā)的超大規(guī)模IC測試系統QT-9000/7200，混合信號IC測試系統QT-8100，分立器件綜合測試平臺QT-4100和高速測試系統QT-6000，和全自動IC打標檢測系統等先進設備。

            

            
	
            

            

            
	
            

            

            
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